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原子力顯微鏡(光學一體機) WY-Op-AFM

原子力顯微鏡(光學一體機) WY-Op-AFM
◆性能特點:光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計,功能強大。同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響。同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能。激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結構非常穩定,抗干擾性強。精密探針定位裝置,激光光斑對準調節非常簡便。單軸驅動樣品自動垂直
服務熱線: 4001-123-022
  • ◆性能特點:

    光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計,功能強大。

    同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響。

    同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能。

    激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結構非常穩定,抗干擾性強。

    精密探針定位裝置,激光光斑對準調節非常簡便。

    單軸驅動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。

    馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。

    超高倍光學定位系統,實現探針和樣品掃描區域精確定位。

    集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%。


    ◆測量范圍及應用:

    測量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

    應用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。


    ◆ 應用案例 Application Case

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  • 序號

    名稱

    技術參數

    01

    工作模式

    接觸模式、輕敲模式

    02

    選配模式

    摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力

    03

    力譜曲線

    F-Z力曲線、RMS-Z曲線

    04

    XY掃描范圍

    50×50um,可選20×20um100×100um

    05

    Z掃描范圍

    5um,可選2.5um,10um

    06

    掃描分辨率

    橫向0.2nm,縱向0.05nm

    07

    樣品尺寸

    Φ≤68mm,H≤20mm

    08

    樣品臺行程

    25×25mm

    09

    光學物鏡

    5X/10X/20X/50X平場復消色差物鏡

    10

    光學目鏡

    10X

    11

    照明方式

    LED柯勒照明系統

    12

    光學調焦

    粗微動手動調焦

    13

    攝像頭

    500萬像素CMOS傳感器

    14

    顯示屏

    10.1寸平板顯示器,帶圖像測量功能

    15

    掃描速率

    0.6Hz~30Hz

    16

    掃描角度

    0~360°

    17

    運行環境

    Windows XP/7/8/10操作系統

    18

    通信接口

    USB2.0/3.0


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