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原子力顯微鏡 WY-6800-AFM

原子力顯微鏡 WY-6800-AFM
◆性能特點:激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結構非常穩定,抗干擾性強。精密探針定位裝置,激光光斑對準調節非常簡便。單軸驅動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,可自由選擇。高倍物鏡自動光學定位,無需調焦,實
服務熱線: 4001-123-022
  • 性能特點:
    激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結構非常穩定,抗干擾性強。
    精密探針定位裝置,激光光斑對準調節非常簡便。
    單軸驅動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描
    馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。

    高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,可自由選擇。
    高倍物鏡自動光學定位,無需調焦,實時觀測與定位探針樣品掃描區域。
    彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,防震效果好
    金屬屏蔽隔音箱,內置高精度溫濕度傳感器,實時監測工作環境。
    集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%。

     

    測量范圍及應用:

    測量范圍:二維、三維、Z、相位、表面形貌粗糙度、膜厚、形貌、相位

    應用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復材、分子篩、TiO2、CrPS415)、CrPS416)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。


    ◆ 應用案例 Application Case

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  • 序號

    名稱

    技術參數

    01

    工作模式

    接觸模式、輕敲模式

    02

    選配模式

    摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力

    03

    力譜曲線

    F-Z力曲線、RMS-Z曲線

    04

    XY掃描范圍

    50×50um,可選20×20um,100×100um

    05

    Z掃描范圍

    5um,可選2.5um10um

    06

    掃描分辨率

    橫向0.2nm,縱向0.05nm

    07

    樣品尺寸

    Φ≤90mm,H≤20mm

    08

    樣品臺行程

    25×25mm

    09

    光學觀察

    10X光學物鏡/1um分辨率

    10

    掃描速率

    0.6Hz~30Hz

    11

    掃描角度

    0~360°

    12

    運行環境

    Windows XP/7/8/10操作系統

    13

    通信接口

    USB2.0/3.0

    14

    減震設計

    彈簧懸掛/金屬屏蔽箱


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